Yann Le Bihan

Laboratoire

Génie Électrique et Électronique de PariS

Publications (277)

Article dans une revue 01/06/2009

Study of the Degrees of Freedom Management of Dual Formulations for the Modelling of Thin Cracks in Eddy Current Testing

Yahya Choua , Laurent Santandrea , Yann Le Bihan , Claude Marchand , Yann Le Bihan , Claude Marchand

Communication dans un congrès 01/02/2009

Nanostructured Soft Magnetic Films: elaboration, performances and applications for tri-layered sensors based on magneto-impedance effect

Francisco Alves , Léna Abi Rached , Yann Le Bihan , J. Moulin , E. Dufour-Gergam , C. Schwebel , Anupam Gupta , R. Raghavendra Reddy , Yann Le Bihan

Communication dans un congrès 01/01/2009

Modélisation en CND : de la conception à l'inversion

Yann Le Bihan , Claude Marchand , Francisco Alves , Yann Le Bihan , Claude Marchand

Communication dans un congrès 01/01/2009

Ridge Polynomial Neural Network for Non-Destructive Eddy Current Evaluation

Tarik Hacib , Yann Le Bihan , Mohamed Mekideche , Nassira Ferkha , Yann Le Bihan

Article dans une revue 01/01/2009

Direct and Inverse Modeling of a Microwave Sensor Determining the Proportion of Fluids in a Pipeline

Hulusi Acikgoz , Benjamin Jannier , Yann Le Bihan , Olivier Dubrunfaut , Olivier Meyer , Lionel Pichon , Yann Le Bihan , Olivier Dubrunfaut , Olivier Meyer , Lionel Pichon

Autre publication scientifique 01/01/2009

Caractérisation électromagnétique de structures complexes

Hulusi Acikgoz , Lionel Pichon , Yann Le Bihan , Olivier Meyer , Lionel Pichon , Yann Le Bihan , Olivier Meyer

Article dans une revue 01/11/2008

Generation and use of optimised databases in microwave characterisation

Hulusi Acikgoz , Laurent Santandrea , Yann Le Bihan , S. Gyimothy , J. Pavo , Olivier Meyer , Lionel Pichon , Yann Le Bihan , Olivier Meyer , Lionel Pichon

Article dans une revue 01/08/2008

Characterization of small cracks in eddy current testing

Yann Le Bihan , J. Pavo , Claude Marchand , Yann Le Bihan , Claude Marchand

Communication dans un congrès 01/07/2008

Study of the DOF management of dual formulations for the modelling of thin cracks in ECT

Yahya Choua , Laurent Santandrea , Yann Le Bihan , Claude Marchand , Yann Le Bihan , Claude Marchand

Article dans une revue 01/06/2008

Adaptive mesh refinement and probe signal calculation in eddy current NDT by complementary formulations

Mohamed Bensetti , Yahya Choua , Laurent Santandrea , Yann Le Bihan , Claude Marchand , Mohamed Bensetti , Yann Le Bihan , Claude Marchand