Yann Le Bihan

Laboratoire

Génie Électrique et Électronique de PariS

Publications (277)

Article dans une revue 01/01/2011

Solution of Inverse Problems in Electromagnetic NDT Using Neural Networks

Abdelghani Ayad , Farid Benhamida , Mohamed Bensetti , Yann Le Bihan , Abdelbaar Bendaoud , Mohamed Bensetti , Yann Le Bihan

Communication dans un congrès 01/11/2010

Using COMSOL-Multiphysics in Eddy Current Non Destructive Testing Context

Laurent Santandrea , Yann Le Bihan , Yann Le Bihan

Article dans une revue 21/10/2010

Modeling of thin structures in eddy current testing with shell elements

A. Ospina , L. Santandrea , Y. Le Bihan , C. Marchand , Yann Le Bihan , Claude Marchand

Communication dans un congrès 01/09/2010

A contribution to connect non-conform meshes with overlapping finite elements

Houda Zaidi , Laurent Santandrea , Guillaume Krebs , Yann Le Bihan , Yann Le Bihan

Communication dans un congrès 01/05/2010

Microwave Characterization using Ridge Polynomial Neural Networks and Least-Square Support Vector Machines

Tarik Hacib , Yann Le Bihan , Olivier Meyer , Lionel Pichon , Yann Le Bihan , Olivier Meyer , Lionel Pichon

Communication dans un congrès 01/05/2010

Partial Least Square Regression for Quantitative Evaluation of Small Anomalies in Non-Destructive Testing

Yann Le Bihan , Claude Marchand , Joszef Pavo , Guillaume Krebs , Yann Le Bihan , Claude Marchand

Communication dans un congrès 01/05/2010

Comparison of two methods for modeling thin regions in eddy current non-destructive testing

Alejandro Ospina Vargas , Houda Zaidi , Laurent Santandrea , Guillaume Krebs , Yann Le Bihan , Yann Le Bihan

Communication dans un congrès 01/05/2010

Overlapping finite elements used to connect non-conforming meshes in 3D with a vector potential formulation

Guillaume Krebs , Thomas Henneron , Stéphane Clenet , Yann Le Bihan , Yann Le Bihan

Communication dans un congrès 01/03/2010

Utilisation des machines à vecteurs supports LSSVM pour la mesure des propriétés diélectriques de matériaux

Tarik Hacib , Yann Le Bihan , Hulusi Acikgoz , Olivier Meyer , Yann Le Bihan , Olivier Meyer

Article dans une revue 01/01/2010

Microwave Characterization Using Least-Square Support vector Machines

Tarik Hacib , Yann Le Bihan , Mohamed Rachid Mekideche , Hulusi Acikgoz , Olivier Meyer , Lionel Pichon , Yann Le Bihan , Olivier Meyer , Lionel Pichon