Yann Le Bihan

Laboratoire

Génie Électrique et Électronique de PariS

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Publications (277)

Communication dans un congrès 01/07/2012

Efficient FEM modelling of printed coils for eddy current testing

Houda Zaidi , Laurent Santandrea , Guillaume Krebs , Yann Le Bihan , Edouard Demaldent , Yann Le Bihan

Communication dans un congrès 01/03/2012

Simulation Tool for the Error Estimation of the Probe Tilt in Eddy Current NDT Context

Laurent Santandrea , Yann Le Bihan , Christophe Reboud , Pierre Calmon , Yann Le Bihan

Article dans une revue 01/02/2012

Use of Overlapping Finite Elements for Connecting Arbitrary Surfaces With Dual Formulations

Houda Zaidi , Laurent Santandrea , Guillaume Krebs , Yann Le Bihan , Edouard Demaldent , Yann Le Bihan

Article dans une revue 01/01/2012

Numerical simulation of electromagnetic acoustic transducers in time domain

Denis Premel , Damien Molka , Sylvain Chatillon , Yann Le Bihan , Yann Le Bihan

Article dans une revue 01/01/2012

Fast diagnosis of transmission lines using neural networks and principal component analysis

Mostafa-Kamel Smail , Yann Le Bihan , Lionel Pichon , Yann Le Bihan , Lionel Pichon

Article dans une revue 01/01/2012

Modelling eddy current testing of ferromagnetic medium

Chiara Zorni , Christophe Reboud , Jean-Marc Decitre , Laurent Santandrea , Yann Le Bihan , Salvatore Ventre , Antonello Tamburrino , Marc Lambert , Yann Le Bihan , Marc Lambert

Article dans une revue 01/01/2012

Modeling of thin conductive and magnetic layers in eddy current testing by overlapping finite elements

Houda Zaidi , Laurent Santandrea , Guillaume Krebs , Yann Le Bihan , Edouard Demaldent , Yann Le Bihan

Communication dans un congrès 07/09/2011

ECT simulation of ferromagnetic planar pieces in harmonic regime

Chiara Zorni , Christophe Reboud , Jean-Marc Decitre , Laurent Santandrea , Yann Le Bihan , Salvatore Ventre , Antonello Tamburrino , Marc Lambert , Yann Le Bihan , Marc Lambert

Communication dans un congrès 01/09/2011

Fast Diagnosis of Transmission Lines using Neural Networks and Principal Component Analysis

Mostafa-Kamel Smail , Yann Le Bihan , Lionel Pichon , Yann Le Bihan , Lionel Pichon

Communication dans un congrès 01/09/2011

Coil-to-sample distance influence on contactless QSSPC effective lifetime measurements : application to silicon wafers passivated by thin amorphous layers

Wilfried Favre , Laroussi Bettaieb , J. Després , José Alvarez , Jean-Paul Kleider , Yann Le Bihan , Zakaria Djebbour , Denis Mencaraglia , Jose Alvarez , Jean-Paul Kleider , Yann Le Bihan , Denis Mencaraglia