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  • publication 17/10/2025
    Imagerie à travers les murs : Etude d'incertitude sur les caractéristiques du mur et du radar
  • publication 17/10/2025
    Through-The-Wall Radar Imaging: A Comparative Study Of Frequency And Time Domain 3D Imaging Techniques
  • publication 17/10/2025
    Modified 2D Backprojection Decomposition for 3D Imaging in Through-the-Wall Applications
  • publication 17/10/2025
    Waveform Design for Uncertainty Mitigation
  • publication 17/10/2025
    Wall Clutter Mitigation Techniques Comparaison for 3D Through-the-Wall Imaging
  • publication 17/10/2025
    Uncertainty Analysis on Wall and Radar's Characteristics in Through-the-Wall Context
  • publication 17/10/2025
    Avancées successives sur la mesure de résistance électrique locale par AFM à pointe conductrice
  • publication 17/10/2025
    Binary and analog resistive switching in LiCoO2-based, two-terminal, devices driven by reversible Li-ion migration
  • publication 17/10/2025
    Specific methodology for capacitance imaging by atomic force microscopy: A breakthrough towards an elimination of parasitic effects
  • publication 17/10/2025
    Nanosized Electrochemical Cells Operated by AFM Conducting Probes
  • publication 17/10/2025
    Resistive switching phenomena in cobalt oxide thin films
  • publication 17/10/2025
    How close to 10 is Pi^2 ?
  • publication 17/10/2025
    Resistive switching phenomena in HT-LixCoO2 thin films deposited by PLD
  • publication 17/10/2025
    Appareil de mesure de la résistance électrique locale d'une surface
  • publication 17/10/2025
    Simultaneous resistance and capacitance cartography by conducting probe AFM in contact mode
  • publication 17/10/2025
    Surface investigations of bonded perfluoro polyether monolayers on gold surfaces
  • publication 17/10/2025
    Correlation between the electrical and mechanical behaviours of a nanocontact with an alkanethiol monolayer
  • publication 17/10/2025
    Simultaneous height, resistance and capacitance cartography of a SRAM test sample by conducting probe AFM
  • publication 17/10/2025
    Améliorations apportées au dispositif de mesure rapide de courant et de résistance électrique pouvant varier sur plusieurs décades
  • publication 17/10/2025
    Patterning molecular materials on nanometer scale by conducting probe AFM
  • publication 17/10/2025
    Caractérisation de profils de dopage par imagerie de résistance locale à faible force
  • publication 17/10/2025
    Avancées récentes sur les mesures de résistance électrique locale par AFM à pointe conductrice en contact intermittent
  • publication 17/10/2025
    Effect of Ge-dots buried below the interface on the transport properties of Schottky diodes
  • publication 17/10/2025
    Typologie de courbes Déflexion-Résistance par AFM à pointe conductrice ; exemples de surfaces d'or recouvertes de monocouches d'alcanethiols
  • publication 17/10/2025
    “ Copper sample analyzed with an n-doped silicon tip using conducting probe atomic force microscopy
  • publication 17/10/2025
    Optimisation de la mesure de capacité électrique locale absolue par AFM à sonde conductrice
  • publication 17/10/2025
    The Resiscope module for DC conductivity measurements by AFM : an overview of performances and some various applications
  • publication 17/10/2025
    Mesures de capacité absolue par AFM à pointe conductrice
  • publication 17/10/2025
    Effect of fluorinated lubricants on the deformation modes of tin electrical contacts submitted to fretting
  • publication 17/10/2025
    Effect of fluorinated lubricants on the friction modes of tin electrical contacts submitted to fretting
  • publication 17/10/2025
    Mesures de capacités plan/plan dans la gamme 1pF-1fF : mise en évidence des effets de bord, proposition d'un modèle et confrontation à des simulations numériques
  • publication 17/10/2025
    Imagerie de résistance électrique locale par AFM à pointe conductrice en mode contact intermittent
  • publication 17/10/2025
    Multi-scale study of the electrical properties of organic layers grafted on gold surfaces
  • publication 17/10/2025
    Evidence of Biorealistic Synaptic Behavior in Diffusive Li-based Two-terminal Resistive Switching Devices
  • publication 17/10/2025
    Mesures de capacité absolue par AFM à pointe conductrice: problématique et avancées récentes
  • publication 17/10/2025
    NaxCoO2 : a new opportunity for rewritable media ?
  • publication 17/10/2025
    Growth and transport properties of HT-LixCoO2 thin films deposited by pulsed laser deposition
  • publication 17/10/2025
    Microscopie à Force Atomique à Pointe Conductrice : carctérisations électriques et modifications physico-chimiques de matériaux par un instrument en développement
  • publication 17/10/2025
    Nanomodifications réversibles obtenues par AFM à pointe conductrice
  • publication 17/10/2025
    Focused ion beam processing of organic crystal (TMTSF)2PF6. A combined conducting probe atomic force microscopy and secondary ion mass spectrometry study
  • publication 17/10/2025
    Mesures électriques locales par AFM en mode intermittent
  • publication 17/10/2025
    Investigation of synaptic behavior in two-terminal resistive switching devices based on Li-ion intercalation/insertion
  • publication 17/10/2025
    Growth and transport measurements of HT-LixCoO2 thin films deposited by PLD
  • publication 17/10/2025
    Stoichiometric effects linked to resistive switching phenomena
  • publication 17/10/2025
    Conducting-Probe AFM Nanoscale Joule Heating Yields Charge-Density-Wave Transition Detection
  • publication 17/10/2025
    Commutation résistive de films minces de LixCoO2: Spécificité du comportement de l'AFM à pointe conductrice
  • publication 17/10/2025
    Resistive Switching Phenomena in LixCoO2 Thin Films
  • publication 17/10/2025
    Appareil de mesure de la résistance électrique locale d'une surface
  • publication 17/10/2025
    Transfert de savoir-faire pour la mise en forme, la fabrication et la mise sur le marché du Résiscope
  • publication 17/10/2025
    Capacitance measurements on small parallel plate capacitors using nanoscale impedance microscopy
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