Jean-Paul Kleider

Laboratoire

Génie Électrique et Électronique de PariS

Publications (536)

Article dans une revue 01/01/2007

Determination of band offsets in a-Si:H/c-Si heterojunctions from capacitance-voltage measurements: capabilities and limits

A.S. Gudovskikh , Samah Ibrahim , Jean-Paul Kleider , J. Damon-Lacoste , Pere Roca I Cabarrocas , Y. Veschetti , P.J. Ribeyron , Jean-Paul Kleider

Communication dans un congrès 01/01/2007

Modulated photoconductivity in the high and low frequency regimes

J.A. Schmidt , Christophe Longeaud , R.R. Koropecki , R. Arce , Jean-Paul Kleider , Jean-Paul Kleider

Communication dans un congrès 01/01/2007

Polymorphous silicon thin films deposited at high rate: transport properties and density of states

Yrebegnan Moussa Soro , A. Abramov , Marie-Estelle Gueunier-Farret , E.V. Johnson , Christophe Longeaud , Pere Roca I Cabarrocas , Jean-Paul Kleider , Jean-Paul Kleider

Brevet 30/06/2006

Dispositif et procédé à capacité commandable

Jean-Paul Kleider , C. Godet , Alexander Gudovskikh , Jean-Paul Kleider

Article dans une revue 01/06/2006

Transport properties and defects in silicon nanoparticles and effect of embedding in amorphous silicon layers

M.E. Gueunier-Farret , J.P. Kleider , F. Voigt , R. Brüggemann , G.H. Bauer , F. Huisken , Gilles Ledoux , Jean-Paul Kleider

Article dans une revue 01/01/2006

New approach to capacitance spectroscopy for interface characterization of a-Si:H/c-Si heterojunctions

Alexander Gudovskikh , Jean-Paul Kleider , R. Stangl , Jean-Paul Kleider

Article dans une revue 01/01/2006

Local electrical characterization of Schottky diodes on H-terminated diamond surfaces by conducting probe atomic force microscopy

Frédéric Houzé , José Alvarez , Jean-Paul Kleider , P. Bergonzo , E. Snidero , D. Tromson , Frederic Houze , Jose Alvarez , Jean-Paul Kleider

Communication dans un congrès 01/01/2006

Local photoconductivity on Schottky diamond photodetectors measured by conducting probe atomic force microscopy

José Alvarez , Frédéric Houzé , Pascal Chrétien , Jean-Paul Kleider , C. Bazin , M. Liao , Y. Koide , Jose Alvarez , Frederic Houze , Jean-Paul Kleider

Communication dans un congrès 01/01/2006

Effect of thermal coupling on the electronic properties of hydrogenated amorphous silicon thin films deposited by electron cyclotron resonance

T.H. Dao , Marie-Estelle Gueunier-Farret , D. Daineka , P. Bulkin , Pere Roca I Cabarrocas , Jean-Paul Kleider , Christophe Longeaud , Cyril Bazin , T. Kervyn de Meerenedre , P. Descamps , P. Loempoel , Jean-Paul Kleider

Article dans une revue 01/01/2006

Device quality a-Si:H deposited from electron cyclotron resonance at very high deposition rates

Marie-Estelle Gueunier-Farret , Cyril Bazin , Jean-Paul Kleider , Christophe Longeaud , P. Bulkin , D. Daineka , T.H. Dao , Pere Roca I Cabarrocas , P. Descamps , T. Kervyn de Meerenedre , P. Loempoel , M. Meaudre , R. Meaudre , Jean-Paul Kleider